Bücher von Goerschwin Fey

Eingebettete Systeme ubernehmen zentrale Steueraufgaben im taglichen Leben. In der Energieversorgung oder im Transportwesen wurde ein Ausfall der Systeme fatale Auswirkungen haben. Der Nutzer verlasst sich aber auf ein fehlerfreies Funktionieren des Systems. Die Funktionstuchtigkeit der Schaltkreise zu garantieren, ist das Ziel des Testens - und das mit geringen Kosten, da jeder Chip nach der Produktion separat getestet werden muss.

VLSI CADhas greatly bene?ted from the use of reduced ordered Binary Decision Diagrams (BDDs) and the clausal representation as a problem of Boolean Satis?ability (SAT), e.g. Latest results in BDD optimization are given, c- ering di?erent aspects of paths in BDDs and the use of e?cient lower bounds during optimization.

Providing an introduction to ATPG, this book reviews the basic concept and classical ATPG algorithms. It is the first book to give a detailed overview on SAT-based ATPG. It describes the state-of-the-art in the field and shows directions for future work.

The size of technically producible integrated circuits increases continuously, but the ability to design and verify these circuits does not keep up. Using a visionary approach, this book analyzes the current design methodology and verification methodology, a number of deficiencies are identified and solutions suggested.