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Bücher von Mohamed Abu Rahma

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  • - Circuits and Statistical Design for Yield
    von Mohab Anis & Mohamed Abu-Rahma
    96,00 - 98,00 €

    This essential reference combines state-of-the-art circuit techniques and statistical methodologies to optimize SRAM performance and yield in nanometer technologies. It shows designers how to apply practical techniques that optimize memory yield.

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