Zur Kompensation von Fehlstellen bietet der Einsatz einer Leistungsmodulation beim Laserstrahl-Mikroschweißen von Kupfer hinsichtlich der Gestaltung und Qualität neue Freiheitsgrade. Durch eine zeitlich und örtlich hochaufgelöste Messung der Energieeinbringung und einer kombinierten Verwendung der örtlichen und zeitlichen Leistungsmodulation wird mit dieser Arbeit ein grundlegendes Prozessverständnis zur Beeinflussung der Präzision und Effizienz beim Laserstrahl-Mikroschweißen bereitgestellt.
Die Rückreflex-induzierte katastrophale optische Degradation (COD) von Hochleistungslaserdioden stellt eine wesentliche Limitierung aktueller Lasersysteme in der Materialbearbeitung dar. In der vorliegenden Arbeit wird ein multiphysikalisches Modell einer Laserdiode entwickelt und anhand experimenteller Daten validiert, mit dem dieser Degradationsprozess abgebildet werden kann. Mithilfe des Modells werden verschiedene Ansätze zum Design Rückreflex-resistenter Laserdioden analysiert.
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