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Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition)

von Rolf Erni
Über Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition)

Aberration-Corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy provides an introduction to aberration-corrected atomic-resolution electron microscopy imaging in materials and physical sciences.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781783265282
  • Einband:
  • Gebundene Ausgabe
  • Seitenzahl:
  • 432
  • Veröffentlicht:
  • 18. Mai 2015
  • Ausgabe:
  • 2
  • Abmessungen:
  • 160x238x23 mm.
  • Gewicht:
  • 802 g.
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Beschreibung von Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition)

Aberration-Corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy provides an introduction to aberration-corrected atomic-resolution electron microscopy imaging in materials and physical sciences.

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