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Advances in X-Ray Analysis

- Volume 10

Über Advances in X-Ray Analysis

The featured subject of the 1966 Denver X-Ray Conference was X-Ray Diffraction Topography and Dynamical X-Ray Phenomena. One of the chairmen of the featured ses sions, Professor R. Young, made the following remarks at the conclusion of his session. We think they are quite appropriate to the occasion and with his permission we reproduce them here.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781468478372
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 558
  • Veröffentlicht:
  • 12. Juni 2012
  • Ausgabe:
  • 11967
  • Abmessungen:
  • 254x178x29 mm.
  • Gewicht:
  • 1075 g.
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Beschreibung von Advances in X-Ray Analysis

The featured subject of the 1966 Denver X-Ray Conference was X-Ray Diffraction Topography and Dynamical X-Ray Phenomena. One of the chairmen of the featured ses sions, Professor R. Young, made the following remarks at the conclusion of his session. We think they are quite appropriate to the occasion and with his permission we reproduce them here.

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