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AlGaN/GaN HEMTs Reliability. Degradation Modes and Analysis

von Ponky Ivo

enthalten in Innovationen mit Mikrowellen und Licht. Forschungsberichte aus dem Ferdinand-Braun-Institut, Leibniz-Institut für Höchstfrequenztechnik 23-Reihe

AlGaN/GaN HEMTs Reliability. Degradation Modes and Analysisvon Ponky Ivo
  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783954042593
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 132
  • Veröffentlicht:
  • 25. Oktober 2012
  • Abmessungen:
  • 148x7x210 mm.
  • Gewicht:
  • 182 g.
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