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Analog IC Reliability in Nanometer CMOS

Über Analog IC Reliability in Nanometer CMOS

This book focuses on modeling, simulation and analysis of analog circuit aging. Then, transistor aging compact models for circuit simulation are discussed and several methods for efficient circuit reliability simulation are explained and compared.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781489986306
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 198
  • Veröffentlicht:
  • 19. Juni 2015
  • Ausgabe:
  • 2013
  • Abmessungen:
  • 235x155x12 mm.
  • Gewicht:
  • 3343 g.
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Beschreibung von Analog IC Reliability in Nanometer CMOS

This book focuses on modeling, simulation and analysis of analog circuit aging. Then, transistor aging compact models for circuit simulation are discussed and several methods for efficient circuit reliability simulation are explained and compared.

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