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Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization

- Atomic-Scale Structure Determination

von Yoshio Waseda

enthalten in Springer Tracts in Modern Physics-Reihe

Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization von Yoshio Waseda Sie sparen 14% des UVP sparen 14%
Über Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization

The second generation amorphous alloys, called "bulk amorphous alloys", have been discovered in some Pd based and Zr based alloy systems, with a super cooled liquid region at more than 120 K.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783662146378
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 214
  • Veröffentlicht:
  • 24. März 2013
  • Ausgabe:
  • 12002
  • Abmessungen:
  • 234x156x12 mm.
  • Gewicht:
  • 361 g.
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Über Yoshio Waseda

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Beschreibung von Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization

The second generation amorphous alloys, called "bulk amorphous alloys", have been discovered in some Pd based and Zr based alloy systems, with a super cooled liquid region at more than 120 K.

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