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Applied Scanning Probe Methods I

Über Applied Scanning Probe Methods I

This book surveys near-field scanning probe techniques, covering static and dynamic force microscopies, including sensor technology and tip characterization. Details applications such as macro- and nanotribology, polymer surfaces and roughness investigations.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783540005278
  • Einband:
  • Gebundene Ausgabe
  • Seitenzahl:
  • 476
  • Veröffentlicht:
  • 13. Januar 2004
  • Ausgabe:
  • 2004
  • Abmessungen:
  • 235x155x27 mm.
  • Gewicht:
  • 1002 g.
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Beschreibung von Applied Scanning Probe Methods I

This book surveys near-field scanning probe techniques, covering static and dynamic force microscopies, including sensor technology and tip characterization. Details applications such as macro- and nanotribology, polymer surfaces and roughness investigations.

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