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Applied Scanning Probe Methods III

- Characterization

enthalten in NanoScience and Technology-Reihe

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Über Applied Scanning Probe Methods III

There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783642065965
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 378
  • Veröffentlicht:
  • 12. Februar 2010
  • Ausgabe:
  • 12006
  • Abmessungen:
  • 156x234x21 mm.
  • Gewicht:
  • 646 g.
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Beschreibung von Applied Scanning Probe Methods III

There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

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