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Über Applied Scanning Probe Methods XII

Additi- ally they might be damaged by the electron beam of the microscope or the vacuum might cause outgasing of solvents or evaporation of water and thus change material properties.

Sprache:
Englisch

ISBN:
9783642098703

Verlag:
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Einband:
Taschenbuch

Seitenzahl:
224

Veröffentlicht:
22. November 2010

Ausgabe:
12009

Gewicht:
433 g.

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