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Applied Scanning Probe Methods XII

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enthalten in NanoScience and Technology-Reihe

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Über Applied Scanning Probe Methods XII

Additi- ally they might be damaged by the electron beam of the microscope or the vacuum might cause outgasing of solvents or evaporation of water and thus change material properties.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783642098703
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 224
  • Veröffentlicht:
  • 22. November 2010
  • Ausgabe:
  • 12009
  • Gewicht:
  • 433 g.
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Beschreibung von Applied Scanning Probe Methods XII

Additi- ally they might be damaged by the electron beam of the microscope or the vacuum might cause outgasing of solvents or evaporation of water and thus change material properties.

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