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Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics

- Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments

von Hui Xie, Cagdas Onal, Stephane Regnier, Metin Sitti

enthalten in Springer Tracts in Advanced Robotics-Reihe

Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics von Hui Xie Sie sparen 13% des UVP sparen 13%
Über Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics

The atomic force microscope (AFM) has been successfully used to perform nanorobotic manipulation operations on nanoscale entities such as particles, nanotubes, nanowires, nanocrystals, and DNA since 1990s.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783642203282
  • Einband:
  • Gebundene Ausgabe
  • Seitenzahl:
  • 344
  • Veröffentlicht:
  • 22. September 2011
  • Ausgabe:
  • 2011
  • Abmessungen:
  • 235x155x25 mm.
  • Gewicht:
  • 771 g.
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Über Hui Xie

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Beschreibung von Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics

The atomic force microscope (AFM) has been successfully used to perform nanorobotic manipulation operations on nanoscale entities such as particles, nanotubes, nanowires, nanocrystals, and DNA since 1990s.

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