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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis

Über Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis

The guidance given in these chapters allows the scientist to understand how to obtain the most precise and understood measu- ments that are currently possible and, where there are inevitable problems, to have clear guidance as the extent of the problem and its likely behavior.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781441932990
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 430
  • Veröffentlicht:
  • 5. Dezember 2010
  • Ausgabe:
  • 11999
  • Abmessungen:
  • 229x152x23 mm.
  • Gewicht:
  • 1390 g.
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Beschreibung von Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis

The guidance given in these chapters allows the scientist to understand how to obtain the most precise and understood measu- ments that are currently possible and, where there are inevitable problems, to have clear guidance as the extent of the problem and its likely behavior.

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