Name: Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods
Price: 50.00 EUR
Availability: InStock
Author: B.K. Tanner
ISBN: 9781475711288

Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods von B.K. Tanner

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Über Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods

This book contains the proceedings of a NATO Advanced Study Institute entitled "Characterization of Crystal Growth Defects by X-ray Methods' held in the University of Durham, England from 29th August to 10th September 1979.

Sprache:
Englisch

ISBN:
9781475711288

Verlag:
Springer-Verlag New York Inc.

Einband:
Taschenbuch

Seitenzahl:
589

Veröffentlicht:
16. Dezember 2012

Ausgabe:
11980

Abmessungen:
254x178x31 mm.

Gewicht:
1156 g.

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This book contains the proceedings of a NATO Advanced Study Institute entitled "Characterization of Crystal Growth Defects by X-ray Methods' held in the University of Durham, England from 29th August to 10th September 1979.

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