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Charged Semiconductor Defects

- Structure, Thermodynamics and Diffusion

Über Charged Semiconductor Defects

"Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781848820586
  • Einband:
  • Gebundene Ausgabe
  • Seitenzahl:
  • 298
  • Veröffentlicht:
  • 26. November 2008
  • Ausgabe:
  • 2009
  • Abmessungen:
  • 235x155x25 mm.
  • Gewicht:
  • 629 g.
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Beschreibung von Charged Semiconductor Defects

"Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.

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