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CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155

enthalten in MRS Proceedings-Reihe

CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
Über CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781107408326
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 194
  • Veröffentlicht:
  • 5. Juni 2014
  • Abmessungen:
  • 152x229x10 mm.
  • Gewicht:
  • 27 g.
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Beschreibung von CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

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