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Data Mining and Diagnosing IC Fails

von Leendert M. Huisman

enthalten in Frontiers in Electronic Testing-Reihe

Data Mining and Diagnosing IC Fails von Leendert M. Huisman Sie sparen 13% des UVP sparen 13%
Über Data Mining and Diagnosing IC Fails

The second part contains all the mathematical details that are necessary to prove the validity of the analysis techniques, the existence of solutions to the problems that those techniques engender, and the correctness of several properties that were assumed in the first part.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9780387249933
  • Einband:
  • Gebundene Ausgabe
  • Seitenzahl:
  • 250
  • Veröffentlicht:
  • 21 Juni 2005
  • Ausgabe:
  • 2005
  • Abmessungen:
  • 234x156x15 mm.
  • Gewicht:
  • 576 g.
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Über Leendert M. Huisman

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Beschreibung von Data Mining and Diagnosing IC Fails

The second part contains all the mathematical details that are necessary to prove the validity of the analysis techniques, the existence of solutions to the problems that those techniques engender, and the correctness of several properties that were assumed in the first part.

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