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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

von Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez

enthalten in Frontiers in Electronic Testing-Reihe

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits von Manoj Sachdev Sie sparen 19% des UVP sparen 19%
Über Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

The 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering have been added to provide a link between defect sources and yield.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9780387465463
  • Einband:
  • Gebundene Ausgabe
  • Seitenzahl:
  • 328
  • Veröffentlicht:
  • 4 Juni 2007
  • Ausgabe:
  • 22007
  • Abmessungen:
  • 234x156x20 mm.
  • Gewicht:
  • 694 g.
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Über Manoj Sachdev

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Beschreibung von Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

The 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering have been added to provide a link between defect sources and yield.

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