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Defects and Properties of Semiconductors

- Defect Engineering

enthalten in Advances in Solid State Technology-Reihe

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Über Defects and Properties of Semiconductors

Defect study in semiconductor engineering started originally with seeking methods how to suppress generation of harmful defects during device processing in order to achieve a high yield of device fabrication.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9789401086165
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 300
  • Veröffentlicht:
  • 25. Dezember 2011
  • Ausgabe:
  • 11987
  • Abmessungen:
  • 229x152x14 mm.
  • Gewicht:
  • 402 g.
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Beschreibung von Defects and Properties of Semiconductors

Defect study in semiconductor engineering started originally with seeking methods how to suppress generation of harmful defects during device processing in order to achieve a high yield of device fabrication.

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