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Electromigration In Ulsi Interconnections

von Cher Ming (Ntu Tan

enthalten in International Series On Advances In Solid State Electronics And Technology-Reihe

Electromigration In Ulsi Interconnections von Cher Ming (Ntu Tan
Über Electromigration In Ulsi Interconnections

Presents a description of the electro migration in integrated circuits. This book examines the various interconnected systems and their evolution employed in integrated circuit technology. It is suitable for readers on electro migration in ULSI interconnections.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9789814273329
  • Einband:
  • Gebundene Ausgabe
  • Seitenzahl:
  • 312
  • Veröffentlicht:
  • 25. August 2010
  • Abmessungen:
  • 229x155x23 mm.
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Über Cher Ming (Ntu Tan

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Beschreibung von Electromigration In Ulsi Interconnections

Presents a description of the electro migration in integrated circuits. This book examines the various interconnected systems and their evolution employed in integrated circuit technology. It is suitable for readers on electro migration in ULSI interconnections.

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