Große Auswahl an günstigen Büchern
Schnelle Lieferung per Post und DHL

Electromigration Modeling at Circuit Layout Level

Über Electromigration Modeling at Circuit Layout Level

Integrated circuit (IC) reliability is of increasing concern in present-day IC technology where the interconnect failures significantly increases the failure rate for ICs with decreasing interconnect dimension and increasing number of interconnect levels.

Mehr anzeigen
  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9789814451208
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 103
  • Veröffentlicht:
  • 4. Mai 2013
  • Ausgabe:
  • 2013
  • Abmessungen:
  • 155x235x6 mm.
  • Gewicht:
  • 1883 g.
  Versandkostenfrei
  Sofort lieferbar

Beschreibung von Electromigration Modeling at Circuit Layout Level

Integrated circuit (IC) reliability is of increasing concern in present-day IC technology where the interconnect failures significantly increases the failure rate for ICs with decreasing interconnect dimension and increasing number of interconnect levels.

Kund*innenbewertungen von Electromigration Modeling at Circuit Layout Level



Ähnliche Bücher finden
Das Buch Electromigration Modeling at Circuit Layout Level ist in den folgenden Kategorien erhältlich:

Willkommen bei den Tales Buchfreunden und -freundinnen

Jetzt zum Newsletter anmelden und tolle Angebote und Anregungen für Ihre nächste Lektüre erhalten.