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Electromigration Modeling at Circuit Layout Level

Über Electromigration Modeling at Circuit Layout Level

Integrated circuit (IC) reliability is of increasing concern in present-day IC technology where the interconnect failures significantly increases the failure rate for ICs with decreasing interconnect dimension and increasing number of interconnect levels.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9789814451208
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 103
  • Veröffentlicht:
  • 4. Mai 2013
  • Ausgabe:
  • 2013
  • Abmessungen:
  • 155x235x6 mm.
  • Gewicht:
  • 1883 g.
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Beschreibung von Electromigration Modeling at Circuit Layout Level

Integrated circuit (IC) reliability is of increasing concern in present-day IC technology where the interconnect failures significantly increases the failure rate for ICs with decreasing interconnect dimension and increasing number of interconnect levels.

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