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Electron Beam Testing Technology

enthalten in Microdevices-Reihe

Über Electron Beam Testing Technology

Although exploratory and developmental activity in electron beam testing (EBT) 25 years, it was not had already been in existence in research laboratories for over until the beginning of the 1980s that it was taken up seriously as a technique for integrated circuit (IC) testing.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781489915245
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 462
  • Veröffentlicht:
  • 4. Juni 2013
  • Ausgabe:
  • 11993
  • Abmessungen:
  • 254x178x24 mm.
  • Gewicht:
  • 905 g.
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Beschreibung von Electron Beam Testing Technology

Although exploratory and developmental activity in electron beam testing (EBT) 25 years, it was not had already been in existence in research laboratories for over until the beginning of the 1980s that it was taken up seriously as a technique for integrated circuit (IC) testing.

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