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Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy

enthalten in NATO Science Series B-Reihe

Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy
Über Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy

With these developments in mind, an application was made to the NATO Science Committee in late summer 1987 to fund an Advanced Research Work shop to review the electron microscopy of advanced semiconductors.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781461278504
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 412
  • Veröffentlicht:
  • 13. Oktober 2011
  • Ausgabe:
  • 11989
  • Abmessungen:
  • 244x170x22 mm.
  • Gewicht:
  • 734 g.
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Beschreibung von Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy

With these developments in mind, an application was made to the NATO Science Committee in late summer 1987 to fund an Advanced Research Work shop to review the electron microscopy of advanced semiconductors.

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