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Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design

von Amith Singhee, Rob A. Rutenbar

enthalten in Integrated Circuits and Systems-Reihe

Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design von Amith Singhee Sie sparen 13% des UVP sparen 13%
  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781461426721
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 256
  • Veröffentlicht:
  • 5. November 2012
  • Abmessungen:
  • 155x15x235 mm.
  • Gewicht:
  • 394 g.
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