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  5. Field Emission Scanning Electron Microscopy

Field Emission Scanning Electron Microscopy

- New Perspectives for Materials Characterization

von Nicolas Brodusch, Hendrix Demers, Raynald Gauvin

enthalten in SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology-Reihe

Field Emission Scanning Electron Microscopy von Nicolas Brodusch
Über Field Emission Scanning Electron Microscopy

This book highlights what is now achievable in terms of materials characterization with the new generation of cold-field emission scanning electron microscopes applied to real materials at high spatial resolution.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9789811044328
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 137
  • Veröffentlicht:
  • 6. Oktober 2017
  • Ausgabe:
  • 12018
  • Abmessungen:
  • 159x240x13 mm.
  • Gewicht:
  • 252 g.
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Über Nicolas Brodusch

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Beschreibung von Field Emission Scanning Electron Microscopy

This book highlights what is now achievable in terms of materials characterization with the new generation of cold-field emission scanning electron microscopes applied to real materials at high spatial resolution.

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