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Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations

von Ronald G (Purdue Univ Reifenberger

enthalten in Lessons from Nanoscience: A Lecture Notes Series-Reihe

Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations von Ronald G (Purdue Univ Reifenberger
  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9789814630344
  • Einband:
  • Gebundene Ausgabe
  • Seitenzahl:
  • 340
  • Veröffentlicht:
  • 12 November 2015
  • Abmessungen:
  • 158x238x23 mm.
  • Gewicht:
  • 614 g.
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