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Helium Ion Microscopy

- Principles and Applications

von David C. Joy

enthalten in SpringerBriefs in Materials-Reihe

Helium Ion Microscopy von David C. Joy
Über Helium Ion Microscopy

Helium Ion Microscopy: Principles and Applications describes the theory and discusses the practical details of why scanning microscopes using beams of light ions - such as the Helium Ion Microscope (HIM) - are destined to become the imaging tools of choice for the 21st century.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781461486596
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 64
  • Veröffentlicht:
  • 14. September 2013
  • Ausgabe:
  • 2013
  • Abmessungen:
  • 235x155x8 mm.
  • Gewicht:
  • 1372 g.
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Über David C. Joy

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Beschreibung von Helium Ion Microscopy

Helium Ion Microscopy: Principles and Applications describes the theory and discusses the practical details of why scanning microscopes using beams of light ions - such as the Helium Ion Microscope (HIM) - are destined to become the imaging tools of choice for the 21st century.

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