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High-Resolution X-Ray Scattering

- From Thin Films to Lateral Nanostructures

Über High-Resolution X-Ray Scattering

During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781441923073
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 408
  • Veröffentlicht:
  • 12. Dezember 2011
  • Ausgabe:
  • 220042
  • Abmessungen:
  • 235x155x22 mm.
  • Gewicht:
  • 652 g.
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Beschreibung von High-Resolution X-Ray Scattering

During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials.

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