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Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits

von Yusuf Leblebici, Sung-Mo (Steve) Kang

enthalten in The Springer International Series in Engineering and Computer Science-Reihe

Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits von Yusuf Leblebici Sie sparen 19% des UVP sparen 19%
Über Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits

The development and use of accurate reliability simulation tools are therefore crucial for early assessment and improvement of circuit reliability : Once the long-term reliability of the circuit is estimated through simulation, the results can be compared with predetermined reliability specifications or limits.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9780792393528
  • Einband:
  • Gebundene Ausgabe
  • Seitenzahl:
  • 212
  • Veröffentlicht:
  • 2 Juni 1993
  • Ausgabe:
  • 1993
  • Abmessungen:
  • 234x156x14 mm.
  • Gewicht:
  • 1130 g.
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Über Yusuf Leblebici

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Beschreibung von Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits

The development and use of accurate reliability simulation tools are therefore crucial for early assessment and improvement of circuit reliability : Once the long-term reliability of the circuit is estimated through simulation, the results can be compared with predetermined reliability specifications or limits.

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