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Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits

von Yusuf Leblebici, Sung-Mo (Steve) Kang

enthalten in The Springer International Series in Engineering and Computer Science-Reihe

Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits von Yusuf Leblebici Sie sparen 14% des UVP sparen 14%
  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781461364290
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 236
  • Veröffentlicht:
  • 27. September 2012
  • Abmessungen:
  • 155x13x235 mm.
  • Gewicht:
  • 365 g.
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