Name: Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures
Price: 212.00 EUR
Availability: InStock
Author: Mathias Schubert
ISBN: 9783642062285

Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures von Mathias Schubert

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212,00 €

Über Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures

The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy.

Sprache:
Englisch

ISBN:
9783642062285

Verlag:
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Einband:
Taschenbuch

Seitenzahl:
196

Veröffentlicht:
23. November 2010

Ausgabe:
12004

Abmessungen:
234x156x11 mm.

Gewicht:
326 g.

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