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Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models

Über Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models

The expectation was that many small design companies would share the investment into the extremely costful Silicon fabrication plants while designing large lots of application-specific integrated circuits (ASIC's).

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781461363835
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 167
  • Veröffentlicht:
  • 23. Februar 2014
  • Ausgabe:
  • 11993
  • Abmessungen:
  • 235x155x11 mm.
  • Gewicht:
  • 308 g.
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Beschreibung von Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models

The expectation was that many small design companies would share the investment into the extremely costful Silicon fabrication plants while designing large lots of application-specific integrated circuits (ASIC's).

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