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Interfacial Compatibility in Microelectronics

- Moving Away from the Trial and Error Approach

enthalten in Microsystems-Reihe

Über Interfacial Compatibility in Microelectronics

This book provides solutions to several common reliability issues in microsystem packaging. It teaches the reader methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materials.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781447160687
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 218
  • Veröffentlicht:
  • 22. Februar 2014
  • Ausgabe:
  • 2012
  • Abmessungen:
  • 235x155x15 mm.
  • Gewicht:
  • 355 g.
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Beschreibung von Interfacial Compatibility in Microelectronics

This book provides solutions to several common reliability issues in microsystem packaging. It teaches the reader methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materials.

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