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  5. Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon

Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon

von Peter Pichler

enthalten in Computational Microelectronics-Reihe

Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon von Peter Pichler
Über Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon

This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783709172049
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 554
  • Veröffentlicht:
  • 1. November 2012
  • Ausgabe:
  • 12004
  • Abmessungen:
  • 254x178x30 mm.
  • Gewicht:
  • 1104 g.
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Beschreibung von Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon

This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon.

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