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  5. Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology

Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology

von David C. Cox

enthalten in IOP Concise Physics-Reihe

Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology von David C. Cox
  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781681740201
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 104
  • Veröffentlicht:
  • 1. Oktober 2015
  • Abmessungen:
  • 178x253x8 mm.
  • Gewicht:
  • 178 g.
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