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Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials

- Instrumentation, Data Analysis and Applications

von Andrew T. S. (National University of Singapore Wee
Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials von Andrew T. S. (National University of Singapore Wee
Über Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials

Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen von Dünnschichtmaterialien.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783527349517
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 208
  • Veröffentlicht:
  • 13. April 2022
  • Abmessungen:
  • 246x173x11 mm.
  • Gewicht:
  • 414 g.
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Über Andrew T. S. (National University of Singapore Wee

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Beschreibung von Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials

Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen von Dünnschichtmaterialien.

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