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Kelvin Probe Force Microscopy

- Measuring and Compensating Electrostatic Forces

Über Kelvin Probe Force Microscopy

Over the nearly 20 years of Kelvin probe force microscopy, an increasing interest in the technique and its applications has developed. Surface potential studies on semiconductor materials, nanostructures and devices are described, as well as application to molecular and organic materials.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783642225659
  • Einband:
  • Gebundene Ausgabe
  • Seitenzahl:
  • 334
  • Veröffentlicht:
  • 21. Oktober 2011
  • Ausgabe:
  • 2012
  • Abmessungen:
  • 242x162x25 mm.
  • Gewicht:
  • 656 g.
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Beschreibung von Kelvin Probe Force Microscopy

Over the nearly 20 years of Kelvin probe force microscopy, an increasing interest in the technique and its applications has developed. Surface potential studies on semiconductor materials, nanostructures and devices are described, as well as application to molecular and organic materials.

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