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Leakage in Nanometer CMOS Technologies

Über Leakage in Nanometer CMOS Technologies

Covers in detail promising solutions at the device, circuit, and architecture levels of abstraction after first explaining the sensitivity of the various MOS leakage sources to these conditions from the first principles.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9780387257372
  • Einband:
  • Gebundene Ausgabe
  • Seitenzahl:
  • 308
  • Veröffentlicht:
  • 17. November 2005
  • Ausgabe:
  • 2006
  • Abmessungen:
  • 234x156x19 mm.
  • Gewicht:
  • 1380 g.
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Beschreibung von Leakage in Nanometer CMOS Technologies

Covers in detail promising solutions at the device, circuit, and architecture levels of abstraction after first explaining the sensitivity of the various MOS leakage sources to these conditions from the first principles.

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