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Lifetime Spectroscopy

- A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications

von Stefan Rein

enthalten in Springer Series in Materials Science-Reihe

Lifetime Spectroscopy von Stefan Rein
Über Lifetime Spectroscopy

Lifetime spectroscopy is one of the most sensitive diagnostic tools for the identification and analysis of impurities in semiconductors. This book introduces a transparent modeling procedure that allows a detailed theoretical evaluation of the spectroscopic potential of the different lifetime spectroscopic techniques.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783540253037
  • Einband:
  • Gebundene Ausgabe
  • Seitenzahl:
  • 492
  • Veröffentlicht:
  • 23. Juni 2005
  • Ausgabe:
  • 2005
  • Abmessungen:
  • 241x166x37 mm.
  • Gewicht:
  • 950 g.
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Über Stefan Rein

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Beschreibung von Lifetime Spectroscopy

Lifetime spectroscopy is one of the most sensitive diagnostic tools for the identification and analysis of impurities in semiconductors. This book introduces a transparent modeling procedure that allows a detailed theoretical evaluation of the spectroscopic potential of the different lifetime spectroscopic techniques.

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