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Materials, Processes and Reliability for Advanced Interconnects for Micro- and Nanoelectronics — 2009: Volume 1156

enthalten in MRS Proceedings-Reihe

Über Materials, Processes and Reliability for Advanced Interconnects for Micro- and Nanoelectronics — 2009: Volume 1156

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781107408319
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 204
  • Veröffentlicht:
  • 5. Juni 2014
  • Abmessungen:
  • 152x229x11 mm.
  • Gewicht:
  • 28 g.
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Beschreibung von Materials, Processes and Reliability for Advanced Interconnects for Micro- and Nanoelectronics — 2009: Volume 1156

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

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