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Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies

- Origin, Characterization, Control, and Device Impact

Über Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies

material science, defect engineering, device processing, defect and device characterization, and device physics and engineering.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783319939247
  • Einband:
  • Gebundene Ausgabe
  • Seitenzahl:
  • 438
  • Veröffentlicht:
  • 22. August 2018
  • Ausgabe:
  • 12018
  • Abmessungen:
  • 155x235x0 mm.
  • Gewicht:
  • 869 g.
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material science, defect engineering, device processing, defect and device characterization, and device physics and engineering.

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