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Microelectronic Test Structures for CMOS Technology

von Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology von Manjul Bhushan Sie sparen 10% des UVP sparen 10%
Über Microelectronic Test Structures for CMOS Technology

Microelectronic Test Structures for CMOS Technology and Products addresses the basic concepts of the design of test structures for incorporation within test-vehicles, scribe-lines, and CMOS products.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781441993762
  • Einband:
  • Gebundene Ausgabe
  • Seitenzahl:
  • 373
  • Veröffentlicht:
  • 30. August 2011
  • Abmessungen:
  • 155x235x23 mm.
  • Gewicht:
  • 776 g.
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Beschreibung von Microelectronic Test Structures for CMOS Technology

Microelectronic Test Structures for CMOS Technology and Products addresses the basic concepts of the design of test structures for incorporation within test-vehicles, scribe-lines, and CMOS products.

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