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Microscopy of Semiconducting Materials

- Proceedings of the 14th Conference, April 11-14, 2005, Oxford, UK

enthalten in Springer Proceedings in Physics-Reihe

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Über Microscopy of Semiconducting Materials

The 14th conference in the series focused on the most recent advances in the study of the structural and electronic properties of semiconducting materials by the application of transmission and scanning electron microscopy.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783540319146
  • Einband:
  • Gebundene Ausgabe
  • Seitenzahl:
  • 540
  • Veröffentlicht:
  • 10. April 2006
  • Ausgabe:
  • 2005
  • Abmessungen:
  • 234x156x30 mm.
  • Gewicht:
  • 2100 g.
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Beschreibung von Microscopy of Semiconducting Materials

The 14th conference in the series focused on the most recent advances in the study of the structural and electronic properties of semiconducting materials by the application of transmission and scanning electron microscopy.

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