Name: Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs
Price: 88.00 EUR
Availability: InStock
Author: Ricardo Reis
ISBN: 9783030683672

Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs von Ricardo Reis

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Über Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs

transistor reordering, decoupling cells, Schmitt Trigger, and sleep transistor) as alternatives to attenuate the unwanted effects on FinFET logic cells.

Sprache:
Englisch

ISBN:
9783030683672

Verlag:
Springer Nature Switzerland AG

Einband:
Gebundene Ausgabe

Seitenzahl:
131

Veröffentlicht:
11 März 2021

Ausgabe:
12021

Abmessungen:
155x235x0 mm.

Gewicht:
454 g.

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