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Modeling of Electrical Overstress in Integrated Circuits

von Sung-Mo (Steve) Kang, Carlos H. Diaz, Charvaka Duvvury

enthalten in The Springer International Series in Engineering and Computer Science-Reihe

Modeling of Electrical Overstress in Integrated Circuits von Sung-Mo (Steve) Kang Sie sparen 13% des UVP sparen 13%
  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781461362050
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 180
  • Veröffentlicht:
  • 27. September 2012
  • Abmessungen:
  • 155x11x235 mm.
  • Gewicht:
  • 283 g.
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Über Sung-Mo (Steve) Kang

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