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Multi-Chip Module Test Strategies

enthalten in Frontiers in Electronic Testing-Reihe

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Über Multi-Chip Module Test Strategies

This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781461377986
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 167
  • Veröffentlicht:
  • 4 Oktober 2012
  • Ausgabe:
  • 11997
  • Gewicht:
  • 369 g.
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Beschreibung von Multi-Chip Module Test Strategies

This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs.

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