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Nanometrology Using Transmission Electron Microscopy

Über Nanometrology Using Transmission Electron Microscopy

The Transmission Electron Microscope (TEM) is the ultimate tool to see and measure structures on the nanoscale and to probe their elemental composition and electronic structure with sub-nanometer spatial resolution. This book is a practical guide for scientists who need to use the TEM as a tool to answer questions about physical and chemical phenomena on the nanoscale.

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9781681740560
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 85
  • Veröffentlicht:
  • 30. September 2015
  • Abmessungen:
  • 256x178x10 mm.
  • Gewicht:
  • 156 g.
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Beschreibung von Nanometrology Using Transmission Electron Microscopy

The Transmission Electron Microscope (TEM) is the ultimate tool to see and measure structures on the nanoscale and to probe their elemental composition and electronic structure with sub-nanometer spatial resolution. This book is a practical guide for scientists who need to use the TEM as a tool to answer questions about physical and chemical phenomena on the nanoscale.

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