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Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials

- Scanning Probe Microscopy Approach

Über Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials

This book presents recent advances in the field of nanoscale characterization of ferroelectric materials using scanning probe microscopy (SPM).

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783540206620
  • Einband:
  • Gebundene Ausgabe
  • Seitenzahl:
  • 282
  • Veröffentlicht:
  • 6. April 2004
  • Ausgabe:
  • 2004
  • Abmessungen:
  • 235x155x18 mm.
  • Gewicht:
  • 672 g.
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Beschreibung von Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials

This book presents recent advances in the field of nanoscale characterization of ferroelectric materials using scanning probe microscopy (SPM).

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