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Noncontact Atomic Force Microscopy

Über Noncontact Atomic Force Microscopy

Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS);

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  • Sprache:
  • Englisch
  • ISBN:
  • 9783642627729
  • Einband:
  • Taschenbuch
  • Seitenzahl:
  • 440
  • Veröffentlicht:
  • 23. Oktober 2012
  • Ausgabe:
  • 12002
  • Abmessungen:
  • 235x155x24 mm.
  • Gewicht:
  • 692 g.
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Beschreibung von Noncontact Atomic Force Microscopy

Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS);

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