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Über Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices

From September 19-29, a NATO Advanced Study Institute on Non destructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices was held at the Villa Tuscolano in Frascati, Italy.

Sprache:
Englisch

ISBN:
9781475713541

Verlag:
Springer-Verlag New York Inc.

Einband:
Taschenbuch

Seitenzahl:
782

Veröffentlicht:
11. September 2013

Ausgabe:
11979

Abmessungen:
252x175x45 mm.

Gewicht:
1346 g.

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Beschreibung von Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices

From September 19-29, a NATO Advanced Study Institute on Non destructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices was held at the Villa Tuscolano in Frascati, Italy.

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